Апарат за мапирање електричног поља LEEM-3

Кратак опис:

У инжењерској технологији, често је потребно знати расподелу електричног поља система електрода како би се проучио закон кретања електрона или наелектрисаних честица у електричном пољу. На пример, да би се проучило фокусирање и скретање електронског снопа у осцилоскопској цеви, потребно је знати расподелу електричног поља електроде у осцилоскопској цеви. У електронској цеви, потребно је проучити утицај увођења нових електрода на кретање електрона, а такође нам је потребно знати расподелу електричног поља. Генерално говорећи, да би се утврдила расподела електричног поља, могу се користити аналитичке методе и методе симулационих експеримената. Али само у неколико једноставних случајева, расподела електричног поља се може добити аналитичким методама. За опште или сложене системе електрода, обично се одређује симулационим експериментом. Мана методе симулационих експеримената је што прецизност није висока, али за општи инжењерски дизајн, може испунити захтеве.